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제품정보 > C 미터 ~1MHz > C 하이테스터

C 하이테스터

3504

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    제품번호 (발주코드)

    3504-40 RS-232C
    3504-50 GP-IB, RS-232C
    3504-60 GP-IB, RS-232C

    테스트 픽스처는 본체에 포함되어 있지 않습니다. 옵션의 테스트 픽스처 프로브를 선택하십시오. ※ RS-232C용 연결 케이블에 대해 : 시판되는 인터링크 대응 크로스 케이블을 사용할 수 있습니다. RS-232C 케이블 9637은 하드웨어 흐름 제어를 사용하지 않는 경우에만 사용할 수 있습니다.

    • ● 최속 2 ms의 고속 측정
      ● 정전압 측정(CV)으로 전압 의존성이 있는 C 측정에 대응
      ● 3504-60은 4 단자 모두의 접촉 불량을 검출, 고 신뢰성 체크 가능
      ● 3504-60/-50은 BIN 기능으로 선별기에 대응
      ● 3504-40은 테이핑 머신 임베디드용으로 고속&저비용을 실현
      ● 전기종 측정 중 컨택트 에러를 검출, 수율 향상에 기여

    적층 세라믹 콘덴서의 정전압 측정을 할 수 있는 C(정전용량) 측정기

    측정 주파수 120 Hz와 1 kHz인 C 미터입니다.
    대용량의 적층 세라믹 콘덴서를 정전압으로 고속 및 고정밀도 측정을 할 수 있습니다.
    주로 테이핑기, 선별기, 콘덴서의 양불판정, 랭크분류 등에 사용됩니다.

    기본 사양 (정확도 보증 기간 6 개월)​

    측정 파라미터
    C (용량), D (손실 계수 tanδ)
    측정 범위
    C : 0.9400 pF~20.0000 mF D : 0.00001~1.99000
    기본 정확도
    (대표값) C : ± 0.09 % rdg. ± 10 dgt. D : ± 0.0016
    측정 주파수
    120 Hz, 1 kHz
    측정 신호 레벨
    100 mV (3504-60 한정), 500 mV, 1 V rms
    CV100mV 측정 범위 : ~ 170 μF 레인지 (측정 주파수 1 kHz) ~1.45 mF 레인지 (측정 주파수 120 Hz)
    CV500mV 측정 범위 : ~ 170 μF 레인지 (측정 주파수 1 kHz) ~1.45 mF 레인지 (측정 주파수 120 Hz)
    CV1V 측정 범위 : 70 μF 레인지 (측정 주파수 1 kHz) ~ 700 μF 레인지 (측정 주파수 120 Hz)
    출력 저항
    5 Ω (CV 측정 범위 이외의 개방 단자 전압 모드에서)
    디스플레이
    LED (6 자리 표시, 풀 스케일 카운트는 레인지에 따라)
    측정 시간
    2 ms (대표값, 측정 조건에 따라 다름)
    기능
    4 단자 컨택트 체크 기능 (3504-60 한정), BIN 측정 (3504-40 제외), 트리거 동기 출력, 측정 조건 기억, 측정값의 콤퍼레이터 비교, 애버리지 기능, Low-C 리젝트 기능, 채터링 기능, 제어용 입출력 (EXT. I / O), RS-232C 인터페이스 (표준 장비), GP-IB 인터페이스 (3504-40 제외)
    전원
    AC100 / 120 / 220 / 240V ± 10 % (선택 가능), 50/60 Hz, 110 VA max.
    치수 · 질량
    260W × 100H × 220D mm, 3.8 kg
    부속품
    전원 코드 × 1, 접지 어댑터 (국내용) × 1, 사용설명서 × 1, 전원 예비 휴즈 × 1

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    카탈로그

    *카탈로그 : LCR미터 시리즈 Download PDF  [711.22 KB] 한국어
    *카탈로그: 전자부품 계측 어플리케이션 Download PDF  [2.23 MB] 한국어
    Catalog: C METER 3506-10, C HiTESTER 3504 Download PDF  [2.5 MB] 영문

    사용설명서ㆍ매뉴얼

    *C 하이테스터 3504-40,3504-50,3504-60 [3.97 MB] 사용설명서 한국어 Ver.01
    C HiTESTER 3504-40,3504-50,3504-60 [5.35 MB] 사용설명서 영어 Ver.06
    SMD TEST FIXTURE 9677 [1.33 MB] 사용설명서 일본어
    영어    		 Ver.04

    제품외관도

    C HiTESTER 3504-40 [128.08 KB] 03
    C HiTESTER 3504-50 [133 KB] 02
    C HiTESTER 3504-60 [129.42 KB] 02

    Drivers, Firmware

    Sequence Maker, a command send/receive add-in for Excel  Freeware V1.50

    기타

    *사용자 가이드: LCR 어플리케이션 가이드 [1.75 MB] 한국어
    User's Guide: LCR Application Guide [4.51 MB] 영어

    이 제품의 옵션​

    원하시는 종류를 선택하여 주십시오.

    테스트 픽스처

    9262

    • 직결형, DC〜8MHz （특주품 IM3536-01과 결합하면 10 MHz까지 측정 가능）, 측정가능 단자직경: 0.3〜2mm

    SMD 테스트 픽스처

    9263

    • 직결형, DC〜8MHz（IM3536-01과 결합하면 10 MHz까지 측정 가능）, 시료치수:1〜10mm

    SMD 테스트 픽스처

    9677

    • 직결형, 측면에 전극이 있는 SMD용,
      DC〜120MHz, 시료치수:3.5 ±0.5mm

    SMD 테스트 픽스처

    9699

    • 직결형, 밑면에 전극이 있는 SMD용,
      DC〜120MHz, 시료치수: 폭1.0〜4.0mm,
      높이1.5mm 이하

    콘택트 팁

    IM9901

    • L2001의 선단교체용 범용크기,
      L2001에 부속

    콘택트 팁

    IM9902

    • L2001의 선단교체용 소형크기

    4단자 프로브

    9140

    • DC~100 kHz, 1m, 75Ω

    핀셋 프로브

    L2001

    • ・DC〜8MHz
      ・50Ω
      ・선단 전극 간격: 0.3〜6mm

    자세히 보기

    테스트 픽스처

    9261

    • DC～8MHz, 1m, 75Ω

    사용 예 (어플리케이션 ・용도)​

    FAQ (자주 하는 질문)

    제품 관련 문의 사항 중에서 다른 분들께도 참고가 될만한 정보를 공개하고 있습니다.

    키워드

    저항계로 측정 할 수 없는 저항이 있나요?

    전원코드 형상에 대해서

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    궁금하신 점이 있다면 언제든지 문의해 주십시오